Tabea Rebafka (TSI, Télécom ParisTech et CEA Saclay)

Approche de maximum de vraisemblance corrigée pour le modèle d’empilement avec application aux mesures de fluorescence

vendredi 2 octobre 2009, 9h30 - 10h45

Salle de réunion, espace Turing


Nous proposons une méthode d’estimation qui compense l’effet d’empilement
affectant les mesures des durées de vie de fluorescence. L’expérience en
fluorescence consiste à observer les temps d’arrivée des photons de
fluorescence sur le détecteur. L’effet d’empilement voit son origine dans
le fait que seul le temps d’arrivée du premier photon est observé.
L’estimateur proposé est du type du maximum de vraisemblance que l’on peut
calculer avec une version modifiée de l’algorithme E.M. La consistance de
l’estimateur ainsi que sa loi limite sont établies. Le nouvel estimateur
est bien adapté aux mesures de fluorescence, où la distribution initiale
des temps d’arrivée des photons est modélisée par un mélange de lois
exponentielles. La méthode est évaluée sur des données réelles et
synthétiques. Comparé à la pratique actuelle en fluorescence, ce nouvel
estimateur permet une réduction du temps d’acquisition d’un facteur 10.

L’article correspondant est téléchargeable ici :
http://www.tsi.enst.fr/~rebafka/correctedMLE_preprint.pdf